MV-CI013-GS-NN支持0.4 ~ 1.7μm 寬光譜成像，將可見光和短波波段的響應融于一臺相機，打破了原先僅僅響應于可見光或者SWIR波段的傳感器局限，有助于削減系統成本，通過減輕圖像處理負荷提升處理速度，大幅度擴展檢測對象的領域和范圍。

相機機身結構設計緊湊，能大幅縮小相機所占空間，在各類工業檢測設備有限的空間內，可以更好地做適配。

MV-CI013-GS-NN精簡了TEC制冷(leng)和風扇制冷(leng)系統，大(da)幅降低了功耗，從根源上減少了噪聲的引入，讓相(xiang)機(ji)在中(zhong)低曝(pu)光下(xia)的成(cheng)像(xiang)(xiang)同樣保持細膩。搭配獨有的ISP圖像(xiang)(xiang)調節(jie)算法，可最大(da)化呈現缺陷細節(jie)。

硅在(zai) 1.1μm以上的(de)波(bo)長下是透明(ming)的(de)。因此，在(zai)優良波(bo)段1.5μm的(de)短波(bo)下，相機可拍攝到硅片的(de)底層(ceng)結構，可檢(jian)測(ce)硅片隱裂等(deng)缺陷；或(huo)拍攝TFT顯示(shi)屏(ping)的(de)背面，檢(jian)測(ce)觸點質量(liang)。

發光成像(xiang)有(you)助于通過使(shi)硅片或(huo)太陽能電池發光，來識別硅片或(huo)太陽能電池中(zhong)的非均勻性，如(ru)EL、PL等。

SWIR可以透過多種材料(liao)。如(ru)不(bu)同材質(zhi)的物品(pin)，在特定的紅外波段(duan)下，會根據吸收、反射程度而呈現透明(ming)(ming)、半透明(ming)(ming)、白色、黑(hei)色等不(bu)同狀態，適用于同色材料(liao)分(fen)選，塑料(liao)內部填充物檢測、深色物品(pin)內部劃痕等。

水(shui)(shui)在特定的波長上有強烈(lie)的吸(xi)收作用(yong)，如在1.45μm波段下，水(shui)(shui)的吸(xi)收能力較(jiao)強，所以在圖(tu)像中顯(xian)得(de)比較(jiao)暗。含水(shui)(shui)量(liang)少(shao)的部分(fen)，反射(she)率會(hui)強烈(lie)增加，圖(tu)像亮(liang)度(du)較(jiao)高。