1分時頻閃（1-Line）

       當被測(ce)物表面缺(que)陷復雜(za)，使用單(dan)一(yi)(yi)(yi)光(guang)(guang)源照射(she)無法完全捕捉時(shi)(shi)，一(yi)(yi)(yi)般需要設置多個(ge)檢(jian)(jian)測(ce)工位，配(pei)合(he)多組光(guang)(guang)源進行(xing)拍(pai)攝(she)。新款相(xiang)機(ji)支持(chi)分時(shi)(shi)頻閃功能，最(zui)(zui)多可配(pei)合(he)4燈(deng)模(mo)式，可以將多個(ge)工位縮(suo)減(jian)為(wei)一(yi)(yi)(yi)個(ge)，僅使用一(yi)(yi)(yi)臺相(xiang)機(ji)配(pei)合(he)多組光(guang)(guang)源拍(pai)攝(she)，最(zui)(zui)終輸出不(bu)同光(guang)(guang)源照射(she)下的(de)拍(pai)攝(she)圖像，用于缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)。

                                                                              多(duo)工(gong)位(wei)（多(duo)臺相(xiang)機拍攝(she)）                                                                       單工(gong)位(wei)（分時頻閃相(xiang)機拍攝(she)）

下圖為分時頻閃相機在兩燈模式下拍攝的圖像，分別捕捉到了瓶蓋表面不同類型的缺陷特征。

                       with light1                                        with light2

       在(zai)鋰電(dian)池的生產(chan)工藝過(guo)程中，也會借(jie)助分時頻(pin)閃功能(neng)來實現(xian)復雜生產(chan)場景下的多類型缺陷(xian)捕捉，如高(gao)速(su)模切(qie)機(ji)、鋰離子電(dian)池包檢測、極耳/極片/隔膜等的缺陷(xian)檢測。由(you)于產(chan)線(xian)上下料速(su)度快，分時圖像(xiang)可(ke)能(neng)存在(zai)曝光時間短、圖像(xiang)偏(pian)暗的情況。新款MV-CL084-91CM-PRO線(xian)陣相機(ji)在(zai)分時頻(pin)閃功能(neng)的基礎上，可(ke)進一步開啟2/4-TDI功能(neng)，大幅增強圖像(xiang)感(gan)光性能(neng)，提升圖像(xiang)質量和缺陷(xian)識別(bie)率。

鋰電行業

       薄膜(mo)檢測需要捕捉薄膜(mo)生產過程中(zhong)產生的(de)黑點、破(po)洞、劃痕、褶皺等各(ge)類(lei)缺陷，同時(shi)還需測量(liang)薄膜(mo)的(de)尺寸(cun)、厚度。因此(ci)，薄膜(mo)檢測具有缺陷種類(lei)繁(fan)多(duo)、打(da)光要求復(fu)雜(za)多(duo)樣的(de)特點。新(xin)款8k分時(shi)頻閃(shan)線陣相機可至多(duo)配合4燈模式進行多(duo)類(lei)型缺陷同時(shi)獲取，同時(shi)兼具高行頻、TDI以(yi)及多(duo)種良好的(de)ISP功能，為客(ke)戶降低方(fang)案復(fu)雜(za)度的(de)同時(shi)，提(ti)供優質(zhi)的(de)成(cheng)像體驗。

薄膜行業