項目需求:
某集成商有一(yi)個牛奶包(bao)裝生產日(ri)期打(da)印質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)的(de)檢(jian)測(ce)需求(qiu),內容為(wei)檢(jian)測(ce)牛奶包(bao)裝上的(de)生產日(ri)期打(da)印質(zhi)(zhi)量(liang)(liang),判斷是否有打(da)花,缺(que)碼,污點的(de)情況,設備根據檢(jian)測(ce)結果(guo),將打(da)印質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)不良的(de)包(bao)裝剔除。
檢測對象:
方案設計:
視覺(jue)方(fang)案
成像方案部分:
海康相機:MV-CA013-20GM 海康鏡頭(tou):MVL-HF3528M-6MP
光源:MV-LLES-175-30-W 視場(chang)范(fan)圍:60 mm * 40mm
工作(zuo)距離(li):350mm 光(guang)源(yuan)距離(li):180mm
需求難點:
作為檢(jian)查對象(xiang),字(zi)符信息實(shi)時在變(bian)化,位置也不固(gu)定,有(you)(you)一定的(de)波動,包裝(zhuang)個體(ti)之間的(de)差異導致字(zi)符的(de)背(bei)景也有(you)(you)明暗變(bian)化的(de)情況,因此使用(yong)傳統(tong)的(de)缺陷檢(jian)測算法很難實(shi)現
算法實現:
考慮到項目的難點,利用深(shen)度學習(xi)缺陷檢測的方(fang)式搭建算法方(fang)案,首先通過(guo)特征匹配(pei)和仿射變換定位(wei)字符位(wei)置,并將原圖裁剪成260*160大小的圖片(pian)。流程如下:
圖像預處理流程
原圖 裁剪后(hou)的(de)圖片(pian)
通過(guo)圖像預(yu)處(chu)理,將原始(shi)圖像裁剪成(cheng)260*160分辨率的(de)(de)(de)(de)小圖,一方(fang)面可以使得樣(yang)本(ben)的(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)背景更加簡(jian)單,較(jiao)少干擾。同(tong)時(shi),低(di)分辨率的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben)可以較(jiao)少算法對硬件的(de)(de)(de)(de)依賴(lai)。提升(sheng)檢(jian)測效率。模型(xing)訓練(lian)時(shi),選擇(ze)300張(zhang)NG的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben)和300張(zhang)OK的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben),保(bao)證NG的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben)中(zhong)包(bao)含(han)所有(you)缺陷的(de)(de)(de)(de)紋理。具體模型(xing)訓練(lian)的(de)(de)(de)(de)過(guo)程(cheng)略。得到(dao)缺陷檢(jian)測的(de)(de)(de)(de)模型(xing)后(hou),進行測試(shi),測試(shi)的(de)(de)(de)(de)算法流程(cheng)如下:
缺陷檢測流程
通過(guo)測(ce)試發現,OK的(de)(de)(de)樣(yang)(yang)本(ben)(ben)和NG的(de)(de)(de)樣(yang)(yang)本(ben)(ben)在(zai)概率圖的(de)(de)(de)呈現形式上有明顯的(de)(de)(de)差異,通過(guo)blob工具(ju),開啟面積(ji)和閾值使能,過(guo)濾(lv)干擾項,達到字符缺陷檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)效果。測(ce)試樣(yang)(yang)本(ben)(ben)集中,OK的(de)(de)(de)樣(yang)(yang)本(ben)(ben)為(wei)800張(zhang),NG的(de)(de)(de)樣(yang)(yang)本(ben)(ben)為(wei)400張(zhang),OK的(de)(de)(de)全部(bu)識別(bie)(bie)正常,NG的(de)(de)(de)誤(wu)識別(bie)(bie)為(wei)4張(zhang),綜(zong)合識別(bie)(bie)率為(wei)99.7%。
總結:
在實際的(de)(de)應(ying)用環節發現,終端客戶對(dui)字符(fu)缺(que)陷的(de)(de)需(xu)求(qiu)要大于字符(fu)識別的(de)(de)需(xu)求(qiu),實際的(de)(de)噴碼過程中,噴碼錯誤的(de)(de)可能(neng)性非常(chang)(chang)低,往往會(hui)有設備異常(chang)(chang)導致的(de)(de)噴碼缺(que)陷,這類缺(que)陷是客戶需(xu)要剔除(chu)的(de)(de),深(shen)度學習缺(que)陷檢(jian)測技(ji)術剛好可以應(ying)對(dui)這類復雜的(de)(de)缺(que)陷檢(jian)測需(xu)求(qiu)。
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