高性能、高可靠的iData產品是如何煉成的？

從iData首款Windows Mobile系列終端到Android系列終端，以及即將推出的更高性能、全新設計的系列新品……iData任(ren)性地堅守著“高性能、高可靠，源自iData”的品(pin)牌(pai)理(li)念，始終專注于為用戶提(ti)供最好的移動物聯(lian)終端產品(pin)。

那么，高性能、高可靠的iData產品到底(di)是如何煉成的？下面就讓我們來(lai)見證(zheng)iData產品的一(yi)系列專業、可靠的性能測(ce)試！

高低溫測試

模(mo)擬(ni)iData設備在低溫（-20℃）和(he)高溫（60℃）環境(jing)下，檢測產(chan)品依然(ran)能夠正(zheng)常工作和(he)維(wei)護。

自由跌落測試

從(cong)1.5米高度對iData設(she)備(bei)進行6面各3次的自由跌落測試，檢測設(she)備(bei)的抗摔性能和結(jie)構合理性。

滾筒微跌落測試

iData產品在1250px的滾筒箱，旋轉100圈的微跌落實驗(yan)，檢測設(she)備的外殼耐磨性和(he)結構合(he)理性。

按鍵測試和拔插測試

iData產(chan)品的高(gao)品質基因源于對材料(liao)的嚴格篩選(xuan)，所有按鍵的打擊和所有的接口的插拔都會通過壽(shou)命極限測試(shi)。

按鍵(jian)測試——對(dui)產品主按鍵(jian)進行50萬次，側按鍵(jian)5萬次打擊(ji)測試

拔(ba)插(cha)測(ce)試(shi)——將設備插(cha)孔與連接插(cha)針進行5000次插(cha)拔(ba)測(ce)試(shi)

ESD防靜電測試

對(dui)iData產(chan)品(pin)進(jin)行靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)，采用靜(jing)電(dian)高(gao)壓測(ce)試儀進(jin)行接觸和間隙測(ce)試，確保(bao)干燥環境下靜(jing)電(dian)對(dui)設備性(xing)能無任(ren)何影響。

機殼壓力測試

對(dui)iData設備采用20kg的壓力按壓200次，產品(pin)外觀無(wu)變形、無(wu)異常，功能正常。

電池性能測試

對電池(chi)進行(xing)綜合(he)參數測試，確保電池(chi)性能穩(wen)定。

iData全系產品同時(shi)要經過權威檢測機構的多項資(zi)質(zhi)認(ren)證。

微波暗室OTA測試

為了使iData產(chan)品(pin)有(you)良好的(de)無線通(tong)信性能(neng)，我們通(tong)過在微波暗(an)室進行(xing)OTA測試(shi)，檢測產(chan)品(pin)的(de)通(tong)信輻(fu)射接收(shou)性能(neng)數據。

通(tong)信性能射頻(pin)傳導測試   TRP總發射功率/TIS接(jie)收靈(ling)敏度測試

EMC（Electro Magnetic Compatibility）電磁兼(jian)容測試

EMC主要分為電磁(ci)(ci)騷(sao)擾測(ce)試(shi)和電磁(ci)(ci)抗擾度(du)測(ce)試(shi)，iData產品在研發(fa)及定型階段(duan)都(dou)會(hui)委托國內一流的(de)(de)專業測(ce)試(shi)機構進行測(ce)試(shi)，以保證(zheng)設備達到優秀的(de)(de)電磁(ci)(ci)兼容性(xing)能。

1. EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測試(shi)

電磁(ci)騷擾(rao)測試主(zhu)要用于檢測iData設備(bei)所(suo)產生的電磁(ci)輻射對(dui)人體、公共(gong)電網以及其他正(zheng)常工作之電器產品的影(ying)響。

輻射騷擾測試（高/低頻段）