高性能、高可靠的iData產品是如何煉成的？

從iData首款Windows Mobile系列終端到Android系列終端，以及即將推出的更高性能、全新設計的系列新品……iData任(ren)性(xing)地堅(jian)守(shou)著(zhu)“高性(xing)能、高可靠，源(yuan)自iData”的品牌理念，始終(zhong)專(zhuan)注(zhu)于為用戶提供(gong)最好的移動物聯終(zhong)端產品。

那么，高性能、高可靠的iData產品到底是如何煉(lian)成的？下(xia)面就讓(rang)我們來見證iData產(chan)品的一(yi)系列專業(ye)、可靠的性能測試！

高低溫測試

模擬iData設備在低溫(wen)（-20℃）和(he)(he)高溫(wen)（60℃）環境下，檢(jian)測產品依(yi)然(ran)能夠正常工(gong)作和(he)(he)維護。

自由跌落測試

從1.5米高度(du)對(dui)iData設備進行6面(mian)各(ge)3次的自由跌落測試，檢測設備的抗(kang)摔(shuai)性能和結(jie)構(gou)合理性。

滾筒微跌落測試

iData產品在1250px的(de)滾筒箱，旋轉100圈(quan)的(de)微(wei)跌落實(shi)驗(yan)，檢測設備的(de)外殼耐磨性和結構合(he)理性。

按鍵測試和拔插測試

iData產品(pin)的(de)(de)(de)高品(pin)質基因(yin)源于對(dui)材料的(de)(de)(de)嚴格篩選，所有(you)按(an)鍵的(de)(de)(de)打(da)擊和所有(you)的(de)(de)(de)接口的(de)(de)(de)插拔都會通過壽命極限測試。

按(an)鍵(jian)(jian)測試(shi)——對產(chan)品(pin)主按(an)鍵(jian)(jian)進行50萬次，側按(an)鍵(jian)(jian)5萬次打擊測試(shi)

拔(ba)插測(ce)試——將設備插孔與連接插針(zhen)進行5000次插拔(ba)測(ce)試

ESD防靜電測試

對(dui)iData產(chan)品進(jin)(jin)行(xing)靜電放電，采用靜電高壓測試儀進(jin)(jin)行(xing)接觸和(he)間隙測試，確保(bao)干燥環境下靜電對(dui)設備性能無任何影(ying)響(xiang)。

機殼壓力測試

對(dui)iData設備采用(yong)20kg的壓力按壓200次，產品外觀無變形、無異(yi)常(chang)，功能(neng)正常(chang)。

電池性能測試

對電(dian)(dian)池(chi)(chi)進行綜合(he)參數(shu)測試(shi)，確保電(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)穩(wen)定。

iData全系產品同時要經(jing)過(guo)權威檢測機構的(de)多項資質認(ren)證。

微波暗室OTA測試

為了使(shi)iData產(chan)品有良好(hao)的(de)無線通信性能(neng)，我們通過在微波暗室(shi)進行OTA測(ce)試，檢測(ce)產(chan)品的(de)通信輻射接收(shou)性能(neng)數據。

通信(xin)性(xing)能(neng)射(she)頻傳(chuan)導測試(shi)(shi) TRP總發射(she)功(gong)率/TIS接收靈(ling)敏度測試(shi)(shi)

EMC（Electro Magnetic Compatibility）電磁(ci)兼(jian)容測試

EMC主要分(fen)為電(dian)磁(ci)騷擾(rao)測(ce)試(shi)和電(dian)磁(ci)抗(kang)擾(rao)度測(ce)試(shi)，iData產品在(zai)研發及(ji)定型階段都(dou)會委托國內一流的(de)專業(ye)測(ce)試(shi)機構進行(xing)測(ce)試(shi)，以保證設(she)備達到優秀的(de)電(dian)磁(ci)兼容性(xing)能。

1. EMI（Electro-Magnetic Interference）---電(dian)磁(ci)騷擾測試

電(dian)(dian)磁騷擾測試主要用于(yu)檢測iData設備所產生的電(dian)(dian)磁輻(fu)射對人體、公共(gong)電(dian)(dian)網以及其(qi)他正常工(gong)作之電(dian)(dian)器(qi)產品的影響。

輻(fu)射(she)騷擾測試(shi)（高/低頻段(duan)）